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LSP-X5高性能三维扫描探测系统
产品名称:LSP-X5高性能三维扫描探测系统  

 

LSP-X5高性能三维扫描探测系统

超高精度、全三维、固定式扫描测头,可沿着精确定义的工件表面方位,在X,Y 和Z 三个方向同步测量。这一高承载的模拟测头系统,即使在超长加长杆和沉重探针组的情况(最长800 mm,最重620g)下也可保证达到极快的速度和极高的重复精度。LSP-X5 包括一套特有的防撞系统,用于测头和探针的特别保护。LSP-X5 是完成高精度机械零件和复杂几何形状的理想工具。其自动更换能力使得探针可由测量程序控制自动更换,更换测头不需要进行重新校准。测头探针的气动夹紧确保更换快速、可靠。

技术优势:

LSP-X5高性能三维扫描探测系统

  • 超长探针
    允许探测工件内部的深孔等特征。包括自动重量平衡系统。
  • 自动探针更换功能
    在测量过程中执行自动探针更换,而不需要重新校准。探针的磁力吸盘保证了快速而精确的更换。
  • 具备碰撞保护功能
    在发生误碰撞的情况下保护测座。使得测量系统的工作时间达到最大化,并降低了拥有成本。
LSP-X 系列: 形状的真实再现!

LSP-X5高性能三维扫描探测系统详细介绍

  • 真正的三维探测
    接触工件表面时,测头会自动沿着工件表面的法矢量进行测量。通过线性可变微分传感器(LVDT)探测偏差,即使使用长的加长杆,也可以对探针的弯曲进行准确补偿。这一特性减少了余弦误差,确保了更高的测量精度和效率,这对检测复杂几何体如齿轮、转子和叶片等是至关重要的。
  • 无电机= 没有热源
  • 结构坚固= 维护容易

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